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NI 成功主辦第二屆“中國PXI技術和應用論壇”

2005-07-13 10:11 來源:中華工控網

 

      2005年7月——美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布成功主辦第二屆“中國PXI技術和應用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC 2005),本屆活動于2005年7月7日在深圳舉辦,深圳站共吸引了近400位相關領域的工程師和技術人員到場參加。此外,值得一提的是PXI TAC是由NI主辦、大中國地區規模最大的多供應商PXI活動,共有十家PXI行業內的企業“同臺獻藝”,攜手展示和推廣PXI技術和產品,他們分別是:白金贊助商Chroma、金牌贊助Aeroflex、VI Services(上海聚星儀器)、北京泛華測控和臺灣拓甫科技,以及其他參與廠商ASCOR、VPC(美國弗吉尼亞電子器件公司)、ADLINK(凌華科技)、Acqiris和Ztec Technologies等,盛況空前。

  今年活動的主旨是:PXI——引領自動化測試技術的潮流。活動同期共舉行了十場儀器/自動化和測試應用專題的技術研討會,從現場觀眾的反饋和參與廠商的交流來看,PXI技術正在被越來越多的測試測量工程師所接受和認可,PXI業已成為測試測量行業的主流技術趨勢。

  會議現場的調查,高達90%的觀眾將把PXI作為他們今后的首選測試測量平臺,71.3%表示他們有意向參加、并會向同事推薦明年的活動。參與此次活動的來賓也紛紛表示:“論壇有實例有產品,理論和實際相結合,讓我能更深入地了解PXI技術的前沿知識,以及其操作的便利性。”

  基于兩屆活動的成功經驗,NI會在明年繼續舉辦第三屆“中國PXI技術和應用論壇”,并有信心將其打造成大中國地區PXI行業內首屈一指的多供應商技術論壇。

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